WBE-KSH1000/Испытательная камера для быстрого изменения температуры

Испытываемый образец может быть подвергнут испытаниям на температурное напряжение (ESS), температурному и влажностному экранированию, испытаниям на надежность и т. д. Обычно используемые скорости нарастания температуры: 5°C/мин, 10°C/мин, 15°C/мин, 20°C/мин и 25°C/мин.

Области применения:

Полупроводниковые чипы, научно-исследовательские институты, контроль качества, новая энергетика, оптико-электронная связь, аэрокосмическая и военная промышленность, автомобильная промышленность, ЖК-дисплеи, медицинская и другие технологические отрасли.

Стандарты испытаний:

GB/T 2423.1 Метод испытаний при низких температурах, GJB 150.3 Метод испытаний при высоких температурах, GB/T 2423.2 Метод испытаний при высоких температурах, GJB 150.4 Испытание при низких температурах, GB/T2423.34 Метод испытаний на цикл влажности, GJB 150.9 Метод испытаний на влажность, IEC60068-2 Метод испытаний на температуру и влажность, MIL-STD-202G-103B Метод испытаний на влажность

Особенности продукта:

1. Продукт отвечает требованиям как линейного, так и нелинейного нарастания температуры.
2. Он соответствует требованиям к скорости нарастания температуры от 5°C/мин до 30°C/мин.
3. Дополнительные функции включают жидкий азот, влажное тепло и защиту от конденсации.
4. Используя технологию электронного расширительного клапана и инновационную систему управления, продукт обеспечивает экономию энергии, превышающую 45%.