Он используется для проверки характеристик различных изделий по термостойкости, морозостойкости. В основном используется в полупроводниковых чипах, научно-исследовательских институтах, контроле качества, новой энергетике, оптоэлектронных коммуникациях, аэрокосмической военной промышленности, автомобильной промышленности, ЖК-дисплеях, медицине и других высокотехнологичных отраслях.
Он используется для проверки характеристик различных изделий по термостойкости, морозостойкости. В основном используется в полупроводниковых чипах, научно-исследовательских институтах, контроле качества, новой энергетике, оптоэлектронных коммуникациях, аэрокосмической военной промышленности, автомобильной промышленности, ЖК-дисплеях, медицине и других высокотехнологичных отраслях.
Критерий тестирования
1.B/T 2423.1 Метод испытаний при низких температурах
2. Высокотемпературное испытание GJB 150.3
3. GB/T 2423.2 метод высокотемпературных испытаний
4. Испытание при низких температурах GJB 150.4
